Leistungselektronik
Das Keylab "Leistungselektronik" des ZET ermöglicht die Erforschung von neuartigen Halbleitern, Schaltungen und Materialien für eine effiziente elektrische Energiewandlung. Es stehen leistungsfähige Analysegeräte zur Bestimmung der elektrischen Leistung durch hochpräzise Messung von Spannung und Strom, der Teilentladungsfestigkeit von Isolationsmaterialien sowie zur Charakterisierung der Eigenschaften von Leistungshalbleitern zur Verfügung.
Keylab-Leiter:
Keylab Wissenschaftler:
Hier finden Sie eine Übersicht der Geräte im Keylab Leistungselektronik:
- 8-Kanal-LeistungsmessgerätEinklappen
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Das LMG500 dient der professionellen Leistungsmessung für die Leistungs- und Energieelektronik sowie den Bereich der Umrichter gespeisten Antriebe.
Mit dem Messgerät können u.a. auch:
- Oberschwingungen, zwecks Messung niederfrequenter Signalanteile mit zuschaltbaren Filtern unterdrückt werden sowie
- die Energieverteilung auf verschiedene Frequenzbereiche und deren Anteile an der Gesamtleistung beurteilt werden.
Das Gerät wird in der Forschung zum Testen und Optimieren von Frequenzumrichtern, Leistungselektronik und Elektro-Maschinen eingesetzt.
- Keysight Power Device Analyzer B1506A-H71Einklappen
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Der Keysight B1506A Power Device Analysator ermöglicht die Aufzeichnung der Kennlinien von Leistungshalbleitern. Es können wichtige Parameter der Komponenten unter den jeweiligen Betriebsbedingungen aufgenommen und untersucht werden, wie z. B. die Spannungs-Strom-Kennlinie, die Durchbruchspannung, der Durchflusswiderstand, Kapazitäten oder die elektrische Ladung des Gates.
Der B1506A bietet einen sehr weiten Anwendungsbereich mit Ausgangsspannungen/-strom von ± 3 kV und ± 1500 A (gepulst), schnelle Pulssignale und eine Auflösung bei Strommessungen bis in den Bereich von Nanoampere.
- H+H TeilentladungsprüfstandEinklappen
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Die Teilentladungsprüfung ist ein zerstörungsfreier Test für Isoliermedien unter Betriebsbedingungen. Die Messung erfolgt in pC (picocoulomb) und ermöglicht eine qualitative Bewertung der Prüfergebnisse. Die zur Bewertung notwendigen Grenzwerte sind in unterschiedlichen Normen bzw. Produktnormen festgelegt. Im Gegensatz zum Impuls- und Isolationstest, findet bei der Teilentladungsprüfung keine Vorschädigung des Prüflings statt.